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树木年轮分析仪

产品简介

MC-SNL02年轮图像分析系统是一款多平台图像分析系统,与中晶大幅面或A4幅面扫描仪匹配适用,专门对盘状的木材截面或柱状的生长锥样本进行树木年轮的测量。大型木材样本可在不同部位多次分别成像;钻取的生长锥样条经打磨清晰后可以放置柱状样本;两种自动测定年轮的方法分别适用于不同的树木类型;人工辅助的图像识别校正和

产品型号:MC-SNL02
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MC-SNL02年轮图像分析系统是一款多平台图像分析系统,与中晶大幅面或A4幅面扫描仪匹配适用,专门对盘状的木材截面或柱状的生长锥样本进行树木年轮的测量。

大型木材样本可在不同部位多次分别成像;钻取的生长锥样条经打磨清晰后可以放置柱状样本;两种自动测定年轮的方法分别适用于不同的树木类型;人工辅助的图像识别校正和遗漏像素添加功能。

此外,年轮图像分析系统可自动设置裂缝与年轮角度的切线,以保证测量的精准性;另外,附加可进行植物的标准生长分析,如茎干平均半径、直径、树龄以及总体截面积等。对于所分析的年轮图像可同时显示如下参数:年轮宽度、早材/晚材宽度等。

测量参数:

年轮基本测量参数:年轮计数,年轮环宽度,早材/晚材宽度,年轮环角度(弧度)等。

树木圆盘测量参数:圆盘面积,周长,平均直径,形状因子,孔隙面积,年轮计数等。

应用领域:

广泛应用于植物学、植物生理学、林学、树木学、森林生态学等领域。  

主要技术参数:

   水平或垂直方向测量年轮、延直线方向测量年轮(单节)、年轮宽度测量、忽略缺口部分、边材宽度测量、估算丢失的年轮、以各个方向测量年轮、测量复杂形状的年轮(多节)、添加相关年轮、早材/晚材宽度测量、每环的反射光测量、存储最后部分年轮、增加注释和观察资料、图像编辑、批量分析等。

系统由以下两部分组成:

图像扑捉系统:经过厂家调试的标准年轮样本扫描仪器

超大扫描面积: 31×44 cm,投影面积 31×42 cm,分辨率 4800 DPI,可分辨最小粒子 0.011 mm

年轮分析软件:专业版MC-SNL02树木年轮分析软件。


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